HM-MAP系列吸波貼片采用易面型稀土鐵系化合物為吸收介質，利用新型吸收原理——電磁共振以及渦流損耗，制備的吸波材料，磁共振頻率10 GHz，滿足阻抗匹配，具有“薄、輕、寬、強”的特性，具備全波段、寬頻帶電磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波貼片產品特性

HM-MAP系列吸波貼片采用易面型稀土鐵系化合物為吸收介質，利用新型吸收原理——電磁共振以及渦流損耗，制備的吸波材料，磁共振頻率10GHz，滿足阻抗匹配，具有“薄、輕、寬、強”的特性，具備全波段、寬頻帶電磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波貼片應用領域

廣泛應用于航天、航空、兵器、船舶、雷達、導航、通信EMI&EMC領域，其產品在抑制電磁波干擾、改善天線方向、提高雷達測向測距準確性，通信系統雜波抑制、抗電磁干擾，RCS縮減，微波、射頻器件、高頻設備中使用，有效抑制微波模塊內的反射以及腔體諧振。

HM-MAP系列吸波貼片技術參數

HM-MAP系列吸波貼片物理性能

HM-MAP系列吸波貼片使用方法

防止機箱內不必要的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片直接貼在機殼內壁，防止空腔共振，抑制機殼造成的反射噪聲；

防止電子元件產生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在LSI或者IC表面，抑制LSI或者IC的噪聲輻射，防止天線輻射效應；

將HM-MAP系列吸波貼片置于兩基板之間，抑制基板間的串擾。

防止電線產生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在柔性電路板上，濾除耦合雜波；

將HM-MAP系列吸波貼片纏繞電線表面，防止電線產生的輻射。

防止開口邊緣產生的輻射

將HM-MAP系列吸波貼片貼在開口邊緣，防止金屬表面的高頻電流產生輻射效應。

HM-MAP系列吸波貼片外觀檢測

外觀檢測條件

視力要求

裸視或矯正視力1.0以上；

目視距離

肉眼與被測物距離30～45cm范圍內；

目視角度

待測產品垂直旋轉角度﹢／﹣75°（從上到下），水平旋轉角度﹢／﹣75°（從左到右）；

目視時間

掃描整個檢測面，5～10秒鐘為宜；

照明要求

在自然光或者60～100W的日光燈照明條件下檢驗，距離光源50～55cm處，照度900～1200Lux。

外觀檢測項目：

外觀檢測判定

嚴重缺陷（MAJ）：指影響產品正常使用功能，降低產品可靠性或嚴重影響產品外觀的缺陷；

輕微瑕疵（MIN）：偏離限定標準，但不影響產品正常使用功能或外觀不太明顯的瑕疵。

備注：可以根據客戶需求，采取逆向工程即逆向技術，根據MAXWELL方程，采用遺傳算法（GA），實現吸波材料仿真（CAD），發揮吸收介質特性設計，縮短吸波材料研制周期，滿足客戶對于HM-MAP系列吸波貼片的特定需求。

HM-MAP系列吸波貼片的性能優于美國ARC企業Standard Silicone MAGRAM、DD、FS、FD、ND、UD、TP系列產品，美國Du Pont企業、Laird企業、Emerson&Cuming企業BSR、FGM、GDS、MCS、Q-Zorb、CoolZorb系列產品，可以有效替代進口。